極片表面電阻測量系統(tǒng)-是一款專為電池極片、導電薄膜、柔性電子材料等設計的精密電阻測量設備，可滿足研發(fā)和質量控制中對材料導電性能的精確測量需求。

產(chǎn)品型號：GCJPD-I

更新時間：2025-06-12

廠商性質：生產(chǎn)廠家

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產(chǎn)品分類

電阻率測試儀

新-高溫電阻率測試儀 210-炭塊電阻率測試儀石墨電極電阻率測試儀高溫絕緣電阻率測試儀 121T-高溫電阻率測試儀 121A-絕緣電阻率測試儀點對點對地電組率測試儀油介質損耗電阻率測試儀 121A1-熱刺激電流測量儀 121B-全自動電阻率測試儀多功能極片電阻測量系統(tǒng) 121-體積表面電阻率測試儀高低溫絕緣電阻率測量系統(tǒng)

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極片表面電阻測量系統(tǒng)

GCJPD-I

產(chǎn)品概述：

極片表面電阻測量系統(tǒng)-電池極片中，影響電導率的主要因素包括箔基材與涂層的結合界面情況，導電劑分布狀態(tài)，顆粒之間的接觸狀態(tài)等；通過電池極片的電導率能夠判斷極片電阻中微觀結構的均勻性，預測電池的性能。同時鋰離子電池極片電阻是影響電池內阻、電壓以及自動放電率的重要因素。

目前測試極片電阻的方法有四探針法和兩探針法，四探針法和兩探針法都無法對被測物體表面施加壓力，且極片的表面涂層由顆粒組成，與探針的接觸面積小，只測量了電阻兩端的電壓值和電流值，故探針無法全面表征極片電阻。

無論是四探針法還是兩探針法都只能表征表面薄層的電阻（即只能用于測量被測物表面的薄層電阻），對于較厚且存在成分梯度電池涂層無法全面表征極片的電阻值，另外，它也不能測試真實極片中涂層與基材之間的接觸電阻。四探針測試法僅測量非導電基材極片，且與測試極片接觸點面積小，極片顆粒大，數(shù)據(jù)無參考意義。

本公司所研發(fā)可以對電池極片施加可變壓力，可對壓力值、極片電阻值和厚度變化值進行即時測量，并建立二次電池極片的受壓、延展與電阻的變化關系

通過對極片施加不同壓強，可以使極片表面的涂層顆粒產(chǎn)生不同程度的形變，從而改變極片的導電性能。通過測量數(shù)據(jù)可以分析不同壓強下極片的阻值特性，從而對改良極片提供數(shù)據(jù)參考。

本儀器測試極片電阻阻值時，電流從極片電阻的端面穿過，使得對極片電阻電阻測量更加精確。

上一個：GCJPD-I極片電阻測試儀