裝置瓷高頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀、介質(zhì)損耗測(cè)試儀元件：電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)評(píng)估和性能分析。
半導(dǎo)體元件：變?nèi)荻O管的C-VDC特性；晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析
其它元件：印制電路板、繼電器、開關(guān)、電纜、電池等的阻抗評(píng)估

裝置瓷高頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀

主要用途:主要用于測(cè)量非金屬材料的介電常數(shù)（ε）和介質(zhì)損耗（tanδ）

應(yīng)用對(duì)象:該儀器用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位對(duì)無機(jī)非金屬新材料性能的應(yīng)用研究。

滿足標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T1409-2006測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法

GB/T 5654-2007液體絕緣材料 相對(duì)電容率、介質(zhì)損耗因數(shù)和直流電阻率的測(cè)量

GB/T 21216-2007絕緣液體 測(cè)量電導(dǎo)和電容確定介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗(yàn)方法

GB/T 1693-2007硫化橡膠 介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)定方法

GB/T 5594.4-1985__電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測(cè)試方法介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)試方法

GBT 1409-2006測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長(zhǎng)在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)

損耗因數(shù)的推薦方法

ASTM D150/IEC 60250固體電絕緣材料的(恒久電介質(zhì))的交流損耗特性和介電常數(shù)的測(cè)試方法

方法概述：

裝置瓷高頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀，是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復(fù)合材料等的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì)，通過測(cè)定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)（ε），可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)；儀器的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試。它以單片計(jì)算機(jī)作為儀器的控制，測(cè)量核心采用了頻率數(shù)字鎖定，標(biāo)準(zhǔn)頻率測(cè)試點(diǎn)自動(dòng)設(shè)定，諧振點(diǎn)自動(dòng)搜索，Q值量程自動(dòng)轉(zhuǎn)換，數(shù)值顯示等新技術(shù)，改進(jìn)了調(diào)諧回路，使得調(diào)諧測(cè)試回路的殘余電感減至，并保留了原Q表中自動(dòng)穩(wěn)幅等技術(shù)，使得新儀器在使用時(shí)更為方便，測(cè)量值更為精確。儀器能在較高的測(cè)試頻率條件下，測(cè)量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。

備注說明:

三種不同型號(hào)的儀器,主要區(qū)別是頻率不同,根據(jù)自己測(cè)試頻率,選擇合適的型號(hào)

電極規(guī)格

固體：材料測(cè)量直徑Φ38mm 可選；厚度可調(diào) ≥ 15mm

液體：測(cè)量極片直徑Φ38mm； 液體杯內(nèi)徑Φ48mm 、深7mm（選配）

粉體：測(cè)量極片直徑Φ38mm； 液體杯內(nèi)徑Φ48mm 、深7mm（選配）

試樣要求：固體樣品厚度要求：0.5-15MM

產(chǎn)品配置：

1、測(cè)試主機(jī)：一臺(tái)

2、測(cè)試電感：9個(gè)

3、測(cè)試夾具：1套（標(biāo)配固體測(cè)試夾具一套）

其它規(guī)格：

1、環(huán)境溫度：0℃～+40℃；

2、相對(duì)濕度：<80％；  

3、電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。

4、消耗功率：約25W；

5、凈重：約7kg；

6、外型尺寸：（長(zhǎng)寬高）：380×280×132（mm）